SAP OEE Management (Overall Equipment Effectiveness Management)
Inhaltsverzeichnis
Was ist SAP OEE Management?
SAP OEE Management ist eine Fertigungslösung, die als Teil von SAP Manufacturing Integration and Intelligence (MII) Echtzeit-Daten und historische Daten misst, analysiert und visualisiert. Auf diese Weise erhalten Anlagenbetreiber aussagekräftige Daten zur Analyse der Werks-Performance. Zugleich bilden die Daten die Grundlagen für die Berechnung der OEE-KPIs. Dafür nutzt die OEE-Anwendung die werks- und produktionsbezogenen Stammdaten “Materialstamm” und “Arbeitsplätze und ihre Kapazitäten” aus SAP ERP sowie weitere Quellen.
Obwohl die OEE-Anwendung von SAP bereits über integrierte KPIs für Verfügbarkeit, Leistung und Qualität verfügt, können Anlagenbetreiber zusätzliche KPIs konfigurieren oder bestehende überschreiben. Dies erfolgt entweder in SAP ERP oder durch die Entwicklung eines Business Logic Service, der mit der Datenbank der jeweiligen Maschine kommuniziert. In diesem Fall erfolgt jedoch keine Replikation nach HANA, sondern die Anzeige im UI-Dashboard von SAP MII.
Im Rahmen der automatisierten Erfassung aller Daten erhalten Anlagenbetreiber Kennzahlen wie Durchsatz, Kapazität (Belegnutzgrad) oder Rüstgrad stets in Echtzeit. Dies wirkt sich schlussendlich auf die Gesamtanlageneffektivität genauso positiv aus wie die hoch differenzierte Analyse nach einzelnen Produkten, Produktionseinheiten oder Zeiträumen sowie Fehlerarten und Fehlerquellen. Auf diese Weise generiert SAP OEE in den verschiedensten Bereichen stetige Optimierungsmöglichkeiten. Selbstverständlich ist die Ermittlung und Analyse historischer Daten genauso möglich. Alle durch die OEE-Anwendung von SAP erfassten Daten bilden die Ausgangsbasis für die Berechnung der OEE-Kennzahl.
Funktionen von SAP OEE Management
Die SAP OEE-Anwendung bietet Anlagenbetreibern umfassende Funktionen. Diese reichen von der Erfassung verschiedenster Produktionsverluste bis zur individuellen Erweiterung von Dashboards und Analysen.
- Erfasst Produktionsverluste über die standardisierten KPI-Definitionen in OEE hinaus.
- Ermöglicht weitreichende Datensammlungen außerhalb herkömmlicher KPI-Definitionen
- Durch OEE-Dashboards sammelt SAP OEE relevante Produktionsdaten wie Ursachencodes, Ausfallzeiten oder Mengen
- Integration von SAP ERP, SAP MII und SAP HANA ist vordefiniert
- Analysen und Diagramme erfolgen mit dem Schwerpunkt auf KPIs, die sich auf OEE und Produktionsverluste beziehen
- Ursachenanalyse mittels Drill-Down-Funktion im Rahmen von Verlusten
- Analyseberichte passen sich den individuellen Anforderungen an
- Individuelle Erweiterung von Dashboards und Analysen
All diese Informationen liefern dem Anlagenbetreiber verschiedenste Fertigungskennzahlen, die eine wichtige Grundlage zur Berechnung der OEE-Kennzahl darstellen.
Die umfangreichen Funktionen basieren auf den verschiedenen Funktions-Bausteine der SAP OEE-Anwendung.
- Nutzerspezifische Konfiguration und Stammdaten in SAP ERP
- Integrations-Framework für ERP und den Produktionsbereich, um die Konfigurations-, Stamm- und Bewegungsdaten aus SAP ERP nach SAP MII zu replizieren.
- OEE-Dashboards inklusive Dashboard-Konfiguration und Zugriff
- Nutzerspezifische Aktivitäten in SAP MII für die automatisierte Datensammlung
- Analysen und Reporte
OEE Dashboards auf Werksebene
Auf der Ebene der Produktionsmitarbeiter bietet die Anwendung verschiedene Dashboards, die bereits auf den lokalen SAP-MII-Werkssystemen installiert sind und vom Nutzer anforderungsgerecht konfiguriert werden. Über diese Dashboards sammelt die Anwendung für die Kennzahlen-Berechnung wichtige Produktionsdaten, die sich auf die Fertigungs- oder Prozessaufträge in SAP ERP beziehen.
Zu den Standard-Dashboards zählen folgende Monitore.
- Werksmonitor zeigt die verschiedenen Linien des Werks an und ermöglicht den Zugriff auf den Linienmonitor.
- Linienmonitor stellt die Details einzelner Linien dar.
- Bediener-Dashboard zur Datenerfassung aus der Produktion, um Auftragsvorgänge auszuführen sowie zur Datenerfassung im Offline-Modus während oder nach einer Schicht.
Tools und Services für SAP OEE
Um die SAP OEE-Anwendung so nutzerfreundlich wie möglich zu gestalten, entwickelte SAP verschiedene Tools, die beispielsweise die Konfiguration oder die Ausführung von Berichten und Analysen vereinfachen und effizient gestalten.
Die Konfiguration von SAP OEE erfolgt mit dem CTC-Assistenten (Central Technical Configurator). Dabei handelt es sich um eine zentrale Anwendung, in die der Benutzer alle Konfigurationseinstellungen eingibt. Der CTC-Assistent kommt bei der Konfiguration mit SAP NetWeaver genauso zum Einsatz, um OEE-Benutzer zu konfigurieren, wie für die Integrationskonfiguration von SAP MII oder integrationsbezogenen SAP-OEE-Elementen sowie für die Konfiguration verschiedener Mandanten-Werks-Kombinationen.
Für Berichte und Analysen auf Werksebene ist das Tool SAP-Lumira eine effiziente Lösung. Unter Verwendung lokaler OEE-MII-Daten generiert SAP Lumira verschiedenste Analyseberichte. Für lokale MII-basierte Berichte stellt die OEE-Anwendung von SAP ein Plug-in für SAP Lumira bereit. Ein weiterer positiver Effekt ist die vordefinierte Datenextraktion aus SAP MII, die SAP Lumira direkt nutzt. Eine Funktion, die vor allem die Anhängigkeit des SAP-HANA-basierten Reportings reduziert, das vor allem zentrale und konsolidierte Reportings für alle Werke bereitstellt.
Für die optional konfigurierbare automatische Datensammlung bietet SAP OEE verschiedene Services sowie die nutzerdefinierte Aktion SAP OEE Service Interface. Über diese Aktion lädt der Nutzer Funktionen der OEE-Anwendung hoch, erweitert sie oder passt sie an die individuellen Anforderungen an.
SAP OEE Kennzahl
Die OEE-Kennzahl informiert über die Effizienz der Fertigungsprozesse und ergibt sich aus den Fertigungskennzahlen Verfügbarkeit, Leistung und Qualität.
Verfügbarkeit
Die Verfügbarkeit beschreibt den Zeitrahmen, in dem eine Anlage tatsächlich produktiv war. Daher leitet sich die Verfügbarkeits-Kennzahl aus Ladezeiten, ungeplanten Ausfallzeiten und der Nettoproduktionszeit ab.
Leistung
Die Leistung spiegelt das Verhältnis zwischen tatsächlicher und vorgesehener Geschwindigkeit. Sie wird durch die Nettoeinsatzzeit, die Nettoproduktionszeit sowie den Geschwindigkeitsverlust beeinflusst.
Qualität
Die Kennzahl Qualität zeigt das Verhältnis der gewünschten Qualität zur Gesamtproduktionsmenge. Einfluss auf die Kennzahl nehmen der Qualitätsverlust, die Nettoeinsatzzeit und die wertmäßige Einsatzzeit. Diese Fertigungskennzahlen ermittelt SAP OEE Management aus den vorhandenen Produktions- und Prozessauftragsvorgangsdaten, wofür die SAP OEE-Anwendung verschiedene Grundelemente in Form gemeldeter und berechneter Elemente berücksichtigt.
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Fazit
SAP OEE Management ist ein Element zur Optimierung der Gesamtanlageneffizienz. Es misst und analysiert die Leistung und Verfügbarkeit von Produktionsanlagen in Echtzeit oder basierend auf historischen Daten. Im weiteren Verlauf bilden OEE-Kennzahlen eine Grundlage für fundierte Entscheidungen zur Wertschöpfungssicherung.
Die umfangreichen Funktionen des Programmes umfassen die Erfassung von Produktionsverlusten und die Erweiterung von Dashboards. Somit erhalten Anlagenbetreiber in Echtzeit wichtige Produktionsdaten und können auf dieser Grundlage Ursachenanalysen durchführen.
Das Programm bietet Tools und Services zur Konfiguration, Berichterstellung und Datenanalyse. Im Übrigen basiert die OEE-Kennzahl auf den Fertigungskennzahlen Verfügbarkeit, Leistung und Qualität.
FAQ
Was ist SAP OEE Management?
SAP OEE Management ist eine Lösung für die Fertigung, die Echtzeit- und historische Daten misst, analysiert und visualisiert. Es dient der Leistungs- und Verfügbarkeitsmessung von Produktions- und Fertigungsanlagen. Die daraus resultierenden OEE-Kennzahlen helfen bei der Entscheidungsfindung zur langfristigen Wertschöpfungssicherung.
Welche Funktionen bietet SAP OEE Management?
SAP OEE Management ermöglicht die Erfassung und Analyse von Produktionsverlusten, individuelle Erweiterungen von Dashboards sowie die Integration mit SAP ERP, SAP MII und SAP HANA. Darüber hinaus bietet es eine Ursachenanalyse mittels Drill-Down-Funktion und die Anpassung von Analyseberichten an individuelle Anforderungen.
